SL 低角度擴散四方燈

間接照明

SL 低角度擴散四方燈

主要輔助影像辨識系統檢驗反射物質四周與表面之刮傷,或應用在各式缺陷檢驗。

SL 低角度擴散四方燈

型號說明

SLsquare-roundroundroundtriangletriangle square顏色 / round長度 / triangle寬度

檢測方法

Detection Method

特色

  • ●使用口字型並由四邊低角度光路投射
  • ●尺寸大小選擇性多樣化
  • ●以水平光路準確投射物件表面
  • ●可運用在表面瑕疵檢查或四方形物件輪廓定位
  • ●建議設置高度離物件1mm~30mm

應用範圍

1. IC晶片檢驗&基板零件檢驗
2. 晶圓檢測
3. 焊接點檢驗(SMT)&連接器間距檢驗
4. 傳統QFPs與新式BGAs封裝檢驗
5. 表面瑕疵、輪廓定位、尺寸量測
SLW-04848
SLW-04848
電容(表面為曲面)

型號明細