RP 低角度擴散環型燈

間接照明

RP 低角度擴散環型燈

主要輔助影像辨識系統檢驗反射物質四周與表面之刮傷,或應用在各式缺陷檢驗。

RP 低角度擴散環型燈

型號說明

RPsquare-roundroundroundtriangletriangle square顏色 / round外徑 / triangle內徑

檢測方法

Detection Method

特色

  • ●均勻的60度光路擴散至物件
  • ●主要用在高反射或是金屬物件使用
  • ●可使用在表面瑕疵檢測
  • ●建議設置高度離物件10mm~50mm

應用範圍

1. IC晶片檢驗&基板零件檢驗
2. 晶圓檢測
3. 焊接點檢驗(SMT)&連接器間距檢驗
4. 傳統QFPs與新式BGAs封裝檢驗
5. 表面瑕疵檢測,如:刮傷、裂痕、凹陷
RPR-06739
RPR-06739
CPU
RPR-06739
RPR-06739
手錶表面
RPR-0673
RPR-0673
記憶體

型號明細